CMOS图像传感器的过去,现在和未来
来源:本文由半导体行业观察翻译自semienginerring,谢谢。
本文主要介绍最先进的CMOS图像传感器技术以及未来的发展。
在过去的十年里,CMOS图像传感器(C**)技术取得了令人瞩目的进展,图像传感器的性能也得到了极大的改善。自从在手机中引入相机以来,C**技术取得了巨大的商业成功。
包括科学家和市场营销专家在内的许多人,早在15年前就预言,CMOS图像传感器将完全取代CCD成像设备,就像20世纪80年代中期CCD设备取代了**采集管一样。尽管CMOS在成像领域占有牢固的地位,但它并没有完全取代CCD设备。
另一方面,对CMOS技术的驱动极大地提升了整个成像市场。CMOS图像传感器不仅创建了新的产品应用程序,而且还提高了CCD成像设备的性能。本文介绍了CMOS图像传感器技术中最先进的技术,并对未来的发展前景进行了展望。
图像传感器的定义和用途
图像传感器是一种将光学图像转换成电子信号的电子设备。转换的方法因图像传感器的类型而异
• “模拟”CCD执行光子到电子的转换。
• “数字”CMOS图像传感器(C**)执行光子到电压的转换
图像传感器用于数码相机和成像设备,将相机或成像设备接收到的光线转换为数字图像。
C** vs. CCD
今天,有两种不同的技术用于数字图像采集(图1):
• 电荷耦合器件(CCD)是线性传感器,其输出与接收到的光子数量直接相关。
• 互补金属氧化物半导体(CMOS,或CMOS图像传感器C**)是一种较新的并行读出技术。
这两种类型的成像设备都将光转化为电子(或电荷),随后即可处理成电子信号。CCD的设计目的是将电荷逐个像素地移动,直到它们到达专用读出区域放大器。CMOS图像传感器直接在像素上进行放大。更高级的C**技术提供了一个并行读出架构,其中每个像素都可以单独寻址,或者作为一个组并行地读出(参见图1)。
CMOS传感器的制造成本远低于CCD传感器。由于新型图像传感器的**下降,数码相机已经变得非常便宜和普及。
在表1中,我们展示了CCD和CMOS架构的主要区别。 每个都有独特的优点和缺点,在不同的应用中各显其能(用绿色表示)。
表1:CCD与CMOS架构比较(来源:e2V)
C**中的关键组件
CMOS图像传感器有四个主要组件(见图2):
1光电二极管(PD)
2 像素设计
3 彩色滤光片(CF)
4 微透镜
光电二极管(PD)用于捕捉光,一般用于实现这一功能的是PIN二极管或PN结器件。最广泛实现的像素设计被称为“有源像素传感器”(APS)。通常使用3—6个晶体管,它们可以从大型电容阵列中获得或缓冲像素。彩色滤光片用于分离反射光的红、绿、蓝(RGB)成分。最后,微透镜从C**的非活性部分收集光,并将其聚焦到光电二极管。微透镜通常具有球形表面和网状透镜。
图2:C**中的关键组件(来源:IBM,FSI)
C**性能参数
有许多参数可用于评估图像传感器的性能。我们使用三个主要指标对这些参数进行分类:
1像素布局:像素数,像素间距,像素填充因子
2像素物理:量子效率,阱容量,动态范围,转换增益,暗电流
3像素读数:信噪比,帧速率,线性度,功耗,位深度,调制传递函数,快门效率
(4)背面照度(BSI)技术与前面照度(FSI)技术
高级CMOS图像传感器制造商正在寻求新的架构,以便在保持或增强电—光性能的同时减小像素尺寸。较小的像素通常会带来更高的分辨率、更小的器件,以及更低的功耗和成本。理想情况下,缩小像素尺寸的任何新C**架构都不应该降低性能或图像质量。一种较新的C**架构背面照度(BSI)技术,是常用的前面照度(FSI)技术的有前途的替代方案(见图3)。
图3:::FSI vs. BSI
BSI技术涉及到将图像传感器倒置,并将彩色滤光片和微透镜应用于像素的背面,以便传感器可以通过背面收集光线。 BSI具有深光电二极管和短光路,从而具有更高的量子效率(1)(QE)和较低的串扰(2)(见图4)。
图4:串扰
(1)QE =转换成为电子的光子的百分比
(2)电子串扰=相邻像素之间的电荷(电子或空穴,取决于像素类型)的扩散。它由于底层的电子机制(扩散和漂移)而在硅材料中发生
BSI流程
使用BSI架构制作CMOS图像传感器需要许多工艺步骤。两种不同的BSI工艺流程Si-Bulk(图5)和SOI(图6)如下所示:
图5:BSI Si-Bulk简化流程
图6:BSI SOI工艺流程(来源:Yole)
C**的全局快门(GS)与滚动快门(RS)
“滚动快门”(RS)是一个技术术语,指的是图像传感器扫描图像的方式。如果传感器采用RS,则表示从传感器的一侧(通常是顶部)到另一侧依次逐行扫描图像。通常,CMOS图像传感器在RS模式下工作,其中曝光和快门*作逐行(或逐列)执行。
“全局快门”(GS)也是一个技术术语,指的是可以同时扫描图像的整个区域的传感器。在GS传感器中,使用所有像素同时捕获图像。GS架构包括一个存储器结构和附加的MOS晶体管,以提供额外的功能。今天,大多数C**成像器采用GS模式来避免失真和伪像,如寄生光敏感度(见图7)。使用GS功能的CMOS图像传感器用于各种领域,包括广播、汽车、无人机和监控应用。
图7:滚动(左)与全局(右)快门模式
3D堆叠C**
手机的增长是过去5年来C**单位出货量增长的主要动力。随着C**市场收入的增长,研发支出和专利申请也在增加。这一努力带来了先进的移动****,其中包含了一些新技术,例如:
1用于快速自动对焦(AF)的相位检测像素阵列(PDPA)
2 〜1μm生成像素,具有优越的低光灵敏度
3先进的芯片堆叠,具有与图像信号处理器(**P)晶圆连接的BSI C**晶圆
4 **录制高达4K
3D堆叠图像传感器由在逻辑裸片上面对面堆叠的BSI图像传感器裸片组成。投资堆叠式芯片C**开发的动机各异,具体取决于制造商,但可概括为:
1添加功能
2减少形式
3 支持灵活的生产选择
4有助于3D堆叠中每个裸片的优化
索尼在2012年推出了全球首款用于消费电子产品的堆叠芯片C**相机**,2013年初,平板电脑中使用了8 MP **X014堆叠芯片。第一代芯片采用了上一代TSV,将索尼制造的90nm C**裸片的pad与65nm **P的pad连接起来(来源:Chipworks)。
索尼的13 MP IMX214第二代堆叠C**芯片的制造类似于其90/65 nm(C** / **P)技术,并于2014年用于iPhone6 / 6s中。
最近(2017年2月),索尼公布了3层C**器件,包括顶层BSI传感器或C**光电二极管,中层DRAM单元阵列和底层逻辑作为**P(图8)。它是具有1um x 1um像素尺寸的23MP图像传感器,使用新的混合键合结构(常规结构类似于TSV)。
索尼还在2017年5月发布了其首款三层960 fps相机,并配备了三明治式堆叠的DRAM。
图8:索尼3层堆叠C**器件(来源:**SCC 2017&TechInsights)
3D堆叠C**的历史
在表2中,我们总结并展示了3D堆叠C**的历史(来源:www.3DIC.org)。我们可以清楚地看到,技术从氧化物粘合+通过最后的TSV堆叠技术转移到混合键合技术,再到最近的顺序3D集成技术。
***立纳米器件实验室和清华大学的研究人员最近展示了一个单片3D图像传感器。他们按顺序制造了单层(小于1nm)的TMD(过渡金属二硫属性元素)光晶体管阵列,使用CVD生长的MoS2,通过高强度的内部连接转移到3D逻辑/存储器混合IC中。
表2:堆叠C**的历史(来自www.3DIC.org)
现在和未来的C**技术/市场/玩家
未来C**技术采用的路线图受到三个**或驱动因素的推动:
1尺寸(3维,相机模组的X,Y和Z)
2图像质量(分辨率,低光性能,对焦(AF)和稳定性(O**))
3功能(慢动作影像,图像分析,运动控制)
BSI,3D堆叠BSI,3D混合以及3D顺序集成都是影响未来C**技术应用的关键技术。
多年来,C**市场的竞争格局已经发生了很大的变化。索尼是市场、生产、技术的者。Omnivision和三星一直保持强劲,Galaxycore和Pixelplus这样的新玩家也在崛起。同时,集成器件制造(IDM)模型一直是佳能和尼康的强大动力来源,它们都经受住了数码相机的缓慢发展。至于松下,它已经与Tower Jazz成立了一家合资公司,以协助其在高端成像应用领域的探索。
今天,C**行业是由手机和汽车应用推动的。智能手机**头的创新将会继续,尽管这个大批量应用的竞争非常激烈。为了保持竞争力,C**制造商正**将越来越多的功能整合到移动**机中(见图9)。
图9:移动**机功能的转型(来源:Yole)
智能手机的应用正处于C**市场份额的领先地位,但许多其他应用将成为C**未来增长的一部分。许多IDM和无晶圆厂公司正在为新兴的更高利润率的成像应用开发芯片,如汽车、安全、医疗和其他领域。这些应用中出现了巨大的机会,推动了新兴供应商和现有供应商的市场和技术工作。这些新兴的机遇正在将移动成像技术推向其他增长领域,我们可能会看到从视觉成像到视觉感知以及其他交互式应用的转变。
原文链接:https://semiengineering.com/cmos-image-sensors-cis-past-present-future/
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